江苏XRF光谱仪,上海测厚仪厂家,江苏RoHS厂家
膜厚仪edx-8000b型xrf镀层测厚仪
simply the best
>;微光斑x 射线---光学器件
通过将高亮度一次 x 射线照射到0.02mm的区域，实现---测量。
>;硅漂移探测器 (sdd) 作为检测系统
高计数率硅漂移检测器可实现---测量。
>;高分辨率样品观测系统
的点位测量功能有助于提高测量精度。
膜厚仪edx8000b可分析的常见镀层材料
可测试重复镀层、非金属、轻金属、多层多元素以及有机物层的厚度及成分含量。
单涂镀层应用：如cr/fe，膜厚仪edx8000t plus， ni/fe， ag/cu，zn/fe等
多涂镀层应用：如au/ni/cu， ag/pb/zn， ni/cu/fe等
合金镀层应用：如znni/fe， znal/ni/cu等
合金成分应用：如nip/fe， 同时分析镍磷含量和镀层厚度
>;镀铬，例如带有装饰性镀铬饰面的塑料制品
>;钢上锌等防腐涂层
>;电路板和柔性pcb上的涂层
>;插头和电触点的接触面
>;电镀液分析
>;镀层，如金基上的铑材料分析
>;电镀液分析
>;分析电子和半导体行业的功能涂层
>;分析硬质材料涂层，例如 crn、tin 或 ticn
>;可拓展增加rohs有害元素分析功能
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